| Resumen | La tomografía computarizada de rayos X (XCT) es una tecnología de medición basada en la reconstrucción de objetos a partir de imágenes radiográficas. Análogamente a los sistemas XCT clínicos, la tomografía industrial permite la observación y el análisis de estructuras tanto externas como internas y ofrece una gran cantidad de información.
Este TFM aborda la caracterización experimental y el modelado del espectro de emisión de rayos X de un tomógrafo industrial para su integración en entornos de simulación realista.
El trabajo abarca la calibración del sistema, la validación de los modelos virtuales y la aplicación de métodos avanzados de inspección y metrología dimensional. Se orienta al desarrollo de competencias en control de calidad no destructivo, metrología por XCT y simulación aplicada a procesos de fabricación. |
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